Əsas performans və struktur xüsusiyyətləri:
1. Sahə sıxlığı ölçmə cihazı və kalıp qapalı dövrə nəzarəti yarada bilər.
2. Ölçülərin aşkarlanması üçün qapalı dövrəli idarəetmə ilə CCD sistemi.
3. Tullantıların üzərinə bitirmə lentini yapışdırın.
4.Double qat şlam substratın eyni tərəfində örtülmüş ola bilər.
5.FHN sistemi ilə birlikdə işləyin və avadanlıq üçün bulud nəzarətini idarə edin.

Keyfiyyətə nəzarət və rəy:
1.On-line aşkarlanması üçün X/B şüasında ərazi sıxlığı ölçən.
2. Ölçü və qüsurların aşkarlanması üçün CCD sistemi.
3.NG mark inkjet çap.
4. Fırın içərisində elektrodun səthində IR vasitəsilə temperaturun ölçülməsi.
5. Kütləvi axınölçən axın, özlülük və temperatur üçün onlayn nəzarət edir.
6. Katod sobası üçün NMP konsentrasiyası monitorinqi və anod sobası üçün rütubətin aşkarlanması.